薄膜等包裝材料厚度是否均勻一致，是檢測薄膜各項性能的基礎(chǔ)。薄膜厚度不均勻，不但會影響到薄膜各處的拉伸強度、阻隔性等，更會影響薄膜的后續(xù)加工。
眾測機電研發(fā)生產(chǎn)的高精度薄膜測厚儀THK-02采用光柵傳感器，適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測量，也稱為薄膜厚度測量儀、薄膜厚度檢測儀和塑料薄膜厚度測定儀等。
測厚儀
高精度薄膜測厚儀主要參數(shù)
通用名稱：測厚儀
儀器型號：THK-02
測量范圍：0～2mm（標配）；0～6mm、0～12mm（選配）
分辨率：0.1μm
均勻性：0.3μm
測試速度：1～25次/min
測量頭平行度：±2μm（機械調(diào)整，量塊校驗）
重復性：0.3μm
測量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；
接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；薄膜、紙張任選一種，非標可定制
電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重：30Kg
標準配置：主機、液晶觸摸屏、電源線、標準量塊
選配件：非標測量頭
匠心設(shè)計
•測頭采用標準M2.5螺紋連接方式，可連接各種形式百分表，千分表表頭進行測量
•可拆卸螺紋連接配重塊，可滿足各種標準要求及非標壓力定制
•測量支架采用具有高吸振特性、受溫度變化極小的球墨鑄鐵一體成形，有效減輕了外界震動、溫度變化對測試產(chǎn)生的影響
•進口高速高精度采樣芯片，有效保證測試準確性與實時性
測試原理
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
薄膜測厚儀生產(chǎn)廠家
